WitDisplay消息，5月22日開始在濟州舉行為期3天的半導體元件國際標準會議，在會議上，韓國正在推動韓國Mico-LED元件的檢測設備技術成為國際標準。

   最近，韓國主導著人工智能用新半導體和系統半導體工程零部件檢測設備等國際標準的開發。此次會議新提出了顯示器用Mico-LED元件質量評價方法。

   Mico-LED是無機發光元件，比基于碳化合物的有機發光二極管（OLED）壽命更長。由于屏幕上沒有留下殘留的閃光現象，因此作為新一代顯示器備受關注。

   此次提出的標準是利用光致發光測量法的非接觸式Mico-LED元件質量檢測方法。光致發光測量法是指LED元件用激光燈接收光能量時，就像連接了電源一樣發光，對該光進行分析檢查的非接觸式方法。

   比基本的接通電源的接觸式方法更快、更經濟地確認是否有問題。Mico-LED元件的質檢成本有望降低50%以上。此次提案是國標院“尖端產業國家標準化戰略”的一環，利用韓國中小企業的Mico-LED檢測設備技術推進。

   韓國國標院標準政策局局長吳光海表示：“利用Mico-LED元件的新一代顯示器目前即將正式商用化，因此期待大幅增長。我們將積極支援我國企業的設備技術以國際標準成為世界標準。”