作為備受矚目的新一代顯示技術，MLED（Mini/Micro LED）顯示已處于產業價值爆發前段，產業鏈技術瓶頸正被逐一攻克。

在生產制造環節，諾瓦星云“核心檢測裝備”已批量成功應用，解決了“MLED顯示一致性””墨色一致性”“側視角一致性”“巨量轉移的質量檢測與修復”等量產難點問題，助力行業伙伴實現MLED顯示屏標準化、規模化制造，助推產業價值爆發。

△諾瓦星云MLED檢測裝備應用現場

難點1

顯示一致性問題

消除顯示一致性問題，對MLED量產意義重大。

從顯示畫質看，因材料、制程、工藝等多種因素，會導致MLED顯示屏不可避免地出現顯示不一致（Mura缺陷），帶來亮度色度偏差與不均勻性，導致顯示瑕疵，減損用戶觀看體驗，必須要進行屏幕校正。

相比傳統LED，MLED的發光芯片尺寸大幅縮小，同時像素點間距也大幅縮小，隨著微縮化，帶來的光學問題也更加嚴重。同時，進入小間距與微間距時代，MLED封裝形式也發生變化，沒有混燈環節，單元板之間光學結構性偏差增大，需要進行更深度的控制與校正。

相對LCD、OLED校正，因為MLED的亮度高、色差大，技術要求要高很多。比如，液晶和OLED只需要8bit亮度校正，LED至少需要12bit的亮度和顏色校正。

隨著MLED成本持續降低，會越來越多應用到商業顯示和消費級市場，應用規模巨量增長，傳統LED出廠后拼接再校正的應用方式，無法滿足規模化標準化生產的需求，MLED必須在廠內完成在線校正，確保顯示一致性，高畫質呈現。

為解決這一行業高難度問題，諾瓦推出全自動Demura設備。

設備集成深耕多年的逐點亮色度校正算法，通過檢測屏幕均勻性和表面缺陷，快速調校亮色度偏差（mura），在產線上即可實現顯示屏亮度色度表達的均勻性與一致性，為MLED的量產提供了有力支撐。

△諾瓦星云MLED Demura設備

難點2

巨量轉移的質量檢測與修復

巨量轉移作為MLED量產核心技術前提。在轉移數千萬計的晶粒到電路基板上后，如何快速點亮與檢測顯示性能，發現問題后又如何快速修復，是降低成本的關鍵環節。

諾瓦星云點亮檢測機，除了常規的死燈，困擾行業的暗燈、側視角亮燈和暗燈等20多項質量監控點外，還能通過軟件與算法，進行工藝水平分析，準確定位問題。

諾瓦星云全自動返修設備，通過自動光學檢測、算法融合處理，快速識別MLED發光芯片顯示異常問題，繼而通過機械、電氣、視覺、激光等多領域核心技術的融合創新，實現對異常燈珠的快速替換，實現高精度、高品質、高效率的返修，確保每次完美修復。

△諾瓦星云MLED全自動返修設備

難點3

墨色一致性問題

MLED顯示屏，既要高通透性提升亮度，又要靜態視覺高度一致，對墨色要求極高。

諾瓦星云MLED墨色分檔系統，內嵌諾瓦人眼視覺和環境感知智能算法、墨色量化算法，有效解決MLED覆膠墨色非均勻性這一行業難題，更精準地還原應用場景光感和人眼視覺感知，靈活應用分類、排序等多樣的分揀方案，降低庫存成本，滿足高端應用品質要求。

△諾瓦星云MLED墨色分檔/多角度檢測設備

難點4

多視角一致性問題

MLED顯示進入消費級市場，需面臨人眼視覺多視角的嚴苛檢驗。

為解決MLED多視角的顯示一致性問題，諾瓦星云MLED多角度檢測系統，通過多視角高精度亮色度采集，搭配諾瓦人眼感知智能算法，優化顯示側視角效果。不但要正視角的高品質顯示，也要側視角的完美表現。

諾瓦星云MLED核心檢測裝備，實現MLED顯示屏點亮、檢測、校正、返修等全流程的智能化管理。

在生產端，大幅提升MLED顯示面板的良率和生產效率，助推生產標準化；在應用端，帶來更好的顯示效果，全鏈路提升MLED產品高品質管理，助力MLED顯示行業突破生產與應用瓶頸，MLED顯示屏標準化、規模化制造。

諾瓦星云MLED核心檢測裝備，助力MLED顯示價值成長。