最近集成小電流24V測試，10串里面單顆芯片差異值在0.01V就回出現亮度不一致。電壓低的芯片就比其他芯片亮，電壓高的點亮后就比其他芯片暗。類似這種問題怎么解決亮度一致性不好。不考慮漏電打線問題。求同行參謀下。
單顆晶片的LED一般的分光機都可以測試其反向漏電（IR），但集成和COB就不行。究其原因無非就是多晶串并，即便是測出漏電，也無法確定是哪一顆晶片。據我所知，目前比較普遍的檢測方法是低壓檢測法。就是用集成的啟動電壓來點亮，電性良好的產品里面的晶片會一起亮，且亮度均勻。而若某顆晶片存在漏電或者焊接不良的情況，那么這顆晶片在低電壓的條件下就會呈現不亮、微亮或者閃爍的情況。不知道有沒有不同的檢測方法？
另外，說這個的原因就是想請教下，這種方法的原理是什么？有沒有錯判的可能？假如說晶片的啟動電壓本身就不同，是不是也會出現這種狀況？目前我所遇到的情況就是，做30W的集成，時不時的會有那么一顆晶片在低壓條件下不亮，可是這顆不亮的晶片從外觀上又看不出任何不亮，煩惱之至！煩請諸位通曉緣由的同仁不吝賜教。
【免責聲明】以上網友發表的話題及評論僅代表發布者個人的觀點，與業績榜網站無關，本網站保持中立。對文中內容的準確性、完整性、可行性，真實性等，業績榜網站不提供任何明示或暗示的擔保，也不承擔任何直接或間接的法律責任。請讀者自行參考。若您發現有侵犯您的權益的，請及時告知業績榜，我們將在第一時間核實處理。
1011
471
470
469
468
466
464
陜公網安備 61019002000416號
業務咨詢